Оглавление:
Оптические приборы
- Бесконтактное измерение шероховатости поверхности выполняется с помощью оптического прибора. В оптическом микроскопе MIS 11 (рис. 138, а) линза 3 излучает тонкий луч, падающий на поверхность изделия от источника света щели 2. На поверхности формируется световая полоса. Изображение разреза фокусируется линзой 4 на плоскости сетки 5 окуляра 6. Лучи, отраженные от выступов профиля и углублений на решетке окуляра, взаимно компенсируют друг друга. Значение смещения зависит от высоты выступа.
Объедините линию, проведенную на сетке микрометра окуляра (рис. 138.6), с неровностями профиля, чтобы определить высоту неровностей на базовой длине и рассчитайте параметр Ng. Определите цену разделения окуляра перед измерением Рисунок 1:18. Микроскоп МИС 11: Микрометр (объектный микрометр) с использованием стеклянной пластины с точной шкалой. Микроскоп МИС 11 (рис. 138, в), намерение Рисунок 139: Микроскоп ПСС 2 Трубка 7, установленная в корпусе 7, и микроскоп 1 предусмотрены. Ползун корпуса перемещается вдоль кронштейна 6 с помощью стойки 5 для заданной заточки. Точная фокусировка выполняется с помощью микроподачи 3.
Поверка обоих приборов должна осуществляться путем прямых измерений, где модельное измерение устанавливается на компараторном столе или переносном стенде микроскопа. Людмила Фирмаль
Изображение щелевого винта 9 передается в центр окуляра. Кольцо 8 регулирует ширину щели. Измерение производится с помощью окуляра микрометра 2. Стол 12 движется вместе с винтом 10, а когда винт 11 отпускается, он вращается в горизонтальной плоскости. Микроскоп PSS 2 (рис. 139), в отличие от микроскопа MIS 11, имеет большее увеличение, встроенный набор линз, внутреннее считывание, сменные слоты и винтовой окулярный микрометр со встроенной камерой. Он оснащен. Предназначен для измерения высоты микрошероховатости наружной поверхности детали и фотографирования.
- Используйте микроинтерферометр для измерения шероховатости поверхности в соответствии с параметрами Ka и Pr. Оптическая схема (рис. 140, а) представляет собой комбинацию интерферометра и микроскопа. Свет от освещения Рисунок 140. Микроинтерферометр МИИ 4: Устройство 1 разделено пластиной 4. Один поток света проходит через компенсационное стекло 5 и линзу 6, отражается от зеркала 7 и возвращается на пластину 4. Другой поток света проходит через линзу 3, отражается от поверхности изделия 2 и возвращается на пластину. Луч интерференционного света направляется линзой 8 через зеркало 9 в фокальную плоскость окуляра 10.
Наблюдаемая интерференционная картина может быть получена с помощью линзы 11. Линза 11 дает реальное изображение плоскости 12. Шероховатость поверхности приводит к искажению интерференционных полос (Рисунок 140.6). Значение микрошероховатости измеряется отношением высоты кривизны полосы а к ширине полосы b. H = Ha (2b). Параметр Kg рассчитывается в соответствии с результатом измерения на базовой длине. Для определения параметра Ka делается интерференционная картина, и изображение обрабатывается проектором.
Помимо вышеупомянутого закона распределения, существуют также такие законы, как логнормальное распределение, двойное экспоненциальное распределение, закон Вейбулла. Он используется при изучении прочности и долговечности механических устройств. Людмила Фирмаль
Микроинтерферометр MII 4 (рис. 140, в) имеет огромное основание 7 с установленным на нем винтом 3 стола микрометра, а продукт 2 помещается на стол с тестируемой поверхностью. Винт 6 фокусирует устройство. При повороте корпуса 4 и винта 5 ширина и направление интерференционных полос меняются. Головка 10 закрывает интерференционное зеркало затвором и может видеть поверхность без помех. Искажение интерференционной полосы измеряется микрометром окуляра9. Камера 8 используется для съемки. Реперсионный микроинтерферометр В зависимости от принципа действия и устройства MII 10 аналогичен микроинтерферометру MII 4.
Специальная конструкция опорного (фиксированный) зеркало сборки и две системы освещения, устройство, измерение шероховатости нормальной, взятая из специальных компонентов на прозрачную пленке помещают в камере, содержащей жидкость погружения Изображение, позволяющее измерить неровности реплик (отпечатков пальцев), увеличить яркость и расширить предел расширения. Микроинтерферометры с иммерсионными репликами позволяют измерять неровности высотой 1 10 мкм.
Смотрите также:
| Основные параметры шероховатости | Средства и методы измерения отклонений от формы цилиндрических поверхностей. Общие сведения |
| Приборы контактного метода контроля | Методы измерения отклонений |
