Для связи в whatsapp +905441085890

Основы интерференционных методов измерений

Основы интерференционных методов измерений
Основы интерференционных методов измерений
Основы интерференционных методов измерений
Основы интерференционных методов измерений

Основы интерференционных методов измерений

  • Поскольку свет распространяется в форме электромагнитных волн, освещение и другие параметры света постоянно меняются в каждой точке пространства. Помехи света. Добавьте когерентный световой поток. В этом случае общий световой поток усиливается или ослабляется. Когерентные волны это волны, которые поддерживают определенную разницу Рисунок 88. Схема добавления когерентного луча: усиление освещения b: Этап взаимодействия. Технология, в принципе, создает когерентный луч, разделяя свет от одного источника света на отдельные лучи.

В месте встречи волна с разностью фаз , кратной числу (числу полуволн), находится в фазе: фф = 2 , где A = 0, 1, 2, 3 ,. … любое целое число). Добавляются амплитуды таких волн (рис. 88, а), а освещение усиливается. Если волны колеблются в разных фазах (рис. 88, б), т.е. Разность фаз световой волны в точке встречи связана с разностью оптического пути светового пучка и длиной X световой волны из за зависимости = 2lD / 1. Таким образом, освещение усиливается в точке пространства, где оптическая разница в движении когерентной световой волны равна четному числу полуволн. Д = Дф = 2йл = 2к = 0; 2 ; 4 А 6 А; … 2l 2l 2 2 2 2 Ослабление света происходит в точке пространства, где разность оптических путей равна нечетной полуволне. D = 1/2; 31/2; 51/2; 71/2; …

Подвижная измерительная каретка оправки 3 снабжена измерительной шестерней 2, а неподвижные суппорты 4-проверяемой шестерней оправки. Людмила Фирмаль

Когда плоская стеклянная пластина 1 накладывается на зеркальную поверхность 2 под углом, близким к нулю, возникает интерференционная картина (рис. 89, а). Луч / разбивается на два луча у нижнего края пластины. Отраженный луч II выходит из пластины, а преломленный луч III проходит через воздушный зазор, отражается от поверхности и снова проходит через стеклянную пластину. После выхода из пластины лучи II и III будут мешать. Интерференционную картину можно наблюдать визуально или через окуляр. Лучи II и 111 одинаково движутся в пластине. Оптическая разница в пути лучей в воздухе составляет AL = (C > + + DE GL).

  • Под углом, близким к нулю, A = 2 й. На границе между оптической средой низкой плотности и оптической средой низкой плотности отражение вызывает сдвиг разности оптических путей из за полуволны света. Разница в маршруте Д = Д + Д // = (2Y + 1/2). Следовательно, оптическая разница в пути луча изменяется вдоль пластины. Если высота воздушного зазора равна целому числу полуволн, разница в пути прохождения лучей будет нечетной полуволной, такой как d = 0; 1/2; 2X / 2; 31/2. D = 1/2; 31/2; 5А. / 2; На пластине наблюдаются темные интерференционные полосы O, 1, 2, 3, …, такие как 71/2 (рис. 89.6). Высота зазора h = = 1 / 2; 1/2; 1/2; 1/2 и т. Д., Разница оптическая 2 2 2 2.

Первым движением будет ровная полуволна Д = 21/2; 41/2; 61/2; 81/2; … и на пластине есть полосы света. Первая темная полоса, которая соответствует краю воздушного клина, обычно называется нулевой полосой, последующие полосы называются первой, второй и т. Д. Линейное измерение интерферометрии основано на том факте, что зазор между пластиной и отражающей поверхностью может быть определен как произведение полуволны света на количество полос. Интерферометрия использует белый (сложный) или монохроматический свет. время При трансляции с белым светом интерференционная картина исчезает с края клина. Темные полосы становятся ярче, а светлые (цвета радуги) теряют яркость. На практике измерения белого света могут быть сделаны только до шестого или седьмого диапазона.

Поэтому при сборке детали необходимо проверить торец шатуна и щечную поверхность коленчатого вала, так как этот зазор может достигать величины 0,15-0,4 мм. Людмила Фирмаль

Максимальная высота измеряемого воздушного зазора h = 6— = 6 = 1,8 2 мкм, K = 0,6 мкм длина 2 2 Волна белого света. Ширина интерференционной полосы b (см. Рис. 89, b). Расстояние между средними точками двух соседних полос зависит от длины волны света X и угла клина a: b = ^ . Ширина полосы определяет угол между перекрывающимися поверхностями. Это основа интерференционного метода, который контролирует плоскостность поверхности. Монохроматический свет во время технических измерений может быть получен путем пропускания белого света через фильтр. Светлые полосы имеют фильтр цвета, а темные полосы полностью черные. Четкость интерференционной картины сохраняется в большем количестве полос, поэтому измеренный размер зазора может превышать 2 микрона.

Смотрите также:

Предмет метрология

Длиномеры низкого давления Плоские стеклянные пластины
Длиномеры высокого давления Поверка притираемости и плоскостности мер