Для связи в whatsapp +905441085890

Измерительные микроскопы и их предназначение

Измерительные микроскопы
Измерительные микроскопы
Измерительные микроскопы
Измерительные микроскопы
Измерительные микроскопы
Измерительные микроскопы

Измерительные микроскопы

  • Измерительные микроскопы предназначены для линейных и угловых измерений объектов вдоль одной оси, а также для декартовой, полярной, цилиндрической и пространственной систем координат. В любом Примеры объектов, которые можно измерить с помощью таких микроскопов, включают резьбовые изделия, режущие инструменты, профильные датчики, кулачки и другие изделия сложной формы.

Кроме того, nnkh может измерить расстояние между центрами отверстий, чтобы проверить правильность расположения плоских и пространственных компонентов. Как правило, каждый измерительный микроскоп состоит из прицельного микроскопа, который фиксирует точку измерительного микроскопа. Мете и стол с этим предметом. Взаимное смещение этих двух частей измеряется с использованием считывателя, выполненного в виде микрометра или считывающего микроскопа.

Их применение в связи с системой следует рассматривать как рациональный способ выражения больших и малых чисел. Людмила Фирмаль

Наиболее широко используется конструкция для шести типов измерительных микроскопов. В первом типе микроскопа нет линейного движения между столом и прицельным микроскопом. Они используются для изучения небольших объектов в увеличенном масштабе. Это измерение возможно только в поле зрения с использованием окулярного микрометра. Для микроскопов типа 2 целевой микроскоп перемещается только в одном направлении. Эти микроскопы используются для измерения только одной оси X.

Если у вас есть вращающийся стол, вы также можете измерить в полярной системе координат X rg и угол rg, используя гониометрический обод стола (Рисунок 13). Для микроскопов типа 3 стол перемещается только в одном направлении. Эти микроскопы используются для тех же целей, что и микроскоп второго типа. Для микроскопов типа 4 стол перемещается в двух направлениях вдоль осей X и Y. Устройство компактного микроскопа по ГОСТ 8074-71 Их 10 *. 30x 21: 7 50x микрометр 0,005 75 25 ± 0,003 Vla.

Большой микроскоп и строметал по ГОСТ 8074 71 ИМТ 10 * 16x 21 1 14 1 30x 50x 7 Микрометр ТТ 0,005 150 50 (100) 360 ac.ooz экран ^ e) Бинокулярный приборный микроскоп по ГОСТ 8074-71 BIM 10x 20x 30x 18 1 9 6 60x 90x Микрометр 0,002 150-360-1 окуляр Общее для измерительных микроскопов UIM-21 UIM-GG UIM-25 10x. 15 раз 1 ^ 5 13; 30x. 50x 6,5: 3,9 Ссылка 0,001 0,01 0,01 200 150 100 100 100 (100) (100) 360 (360) 0,001 ±: 0,0015 5 4 UIM-23 UIM-24-Микроскоп 0,001 0,001 200 500 100 200 з eki.ta 5 5 2 * Тип микроскопа: данные отображаются в текстовом поле. Команда на другие устройства.

  • Эти микроскопы используются для измерений. Любая из этих осей X или Y. В декартовой системе координат XU; в полярной системе координат X (r или 1 ph; в пространственной системе координат XY2 прицельный микроскоп заменяется вертикальным измерителем длины. Угол обзора, когда микроскоп оборудован поворотным столом. Если микроскоп оснащен окуляром гониометра, угол наклона объекта (например, половина угла профиля нити). Для микроскопов типа 5 стол и прицельный микроскоп перемещаются в двух направлениях, перпендикулярных друг другу.

Они используются для тех же целей, что и микроскопы типа 4, и могут измеряться в цилиндрической системе координат Xfg или угол pg, если микроскоп оснащен гониометром. В шестом типе микроскопа стол не движется, а прицельный микроскоп движется в двух направлениях, перпендикулярных друг другу. Они используются для особо требовательных измерений Микроскопы типа 2-4 расширяют пределы измерения для измерения движения, используя плоскопараллельное измерение длины края. Для микроскопов типа 4-6 используется эталонный микроскоп.

Максимально допустимое отклонение-допуск центровки по диаметру равен условию допуска и радиусу двойного отклонения от центровки. Людмила Фирмаль

Характеристики измерительного микроскопа приведены в таблице. 15. На рисунке 1 показан внешний вид универсального измерительного микроскопа типа UIM-23, отображаемого на экране. 13. Обратный отсчет после объединения yggrich 1 и биссектрисы шкалы 2, расположенной ближе всего слева (рисунок 14) A = P1 1 + pg1l + (l, + t8) А = 148-1 + 5-0,1 + 58,5-0,001 = 148,5585 мм. Точность измерений на этих сложных приборах зависит от многих факторов и может сильно различаться.

Значение погрешности измерения предела приведено в таблице. 16. Функция каждого микроскопа зависит от наличия большого количества сменных устройств. Его индекс показан в таблице. 17. Метод измерения MMI Измерение проекционного теневого метода: ± (5 + TG + TGO5 ) длина Гладкий диаметр он- ( + 4) Средний диаметр резьбы Шаг винта ± ( + ^ t + -) Измерение угла профиля резьбы осевым методом ± (= + ^ -).

Гладкий диаметр цилиндра Средний диаметр Шаг винта Угол резьбы Степень R-ша * нить -Размерная длина, мм И — Тип осколка ИМТ УИМ-21 (УИМ-200) ± (6 + -I + — ^ -) ± (3 + -я — + — 5й-) ± (3 + -кг + ^ г) N +4) ± ( + — ) ± ( + -4g + -g) ± (4+ a + tN N т ± 2 + — + ± ( + — ^ g + tg) С0 t I СО5у) ± 0 + 4) ± (м + 4) — ± (2,7 + -I-) — ± (, +77 + ^ 4 + ^ + *) ± (м + 4) Угол 17.

Смотрите также:

Решение задач по метрологии

Устранение источников погрешностей до начала измерения Внесение известных поправок в результат измерения
Исключение систематических погрешностей в процессе измерения Оценка границ систематических погрешностей